掃描電子顯微鏡（SEM）利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。

 

SEM在高分子中的常見應(yīng)用：

 

（1）觀察高聚物的形態(tài)和結(jié)構(gòu)；

（2）觀察結(jié)晶高聚物的晶態(tài)結(jié)構(gòu)；

（3）研究材料共混相容性；

（4）觀察高分子納米材料結(jié)構(gòu)；

（5）表征高分子材料的降解性；

（6）研究高分子材料的生物相容性；

（7）研究多孔材料表面或斷面的孔特征。

 

和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：

 

(1)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

(2) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。

(3) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。

(4) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學(xué)顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。

(5) 圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學(xué)顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學(xué)顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。

(6) 電子束對樣品的損傷與污染程度較小。